Programma seminari EiMTech
22 Luglio 2016

Seminario Eimtech - Vision
Ispezione visiva/dimensionale - controllo statistico di processo

Venerdì 22/07/2016 ore 9:30 – 16:30


Controllo Qualità : Ispezione visiva/dimensionale e controllo statistico di processo



  • Principi di base del processo di misura
  • Caratteristiche di base di uno strumento di misura
  • Sistemi di misura senza contatto: principi di base ed applicazioni
  • Il controllo statistico di processo (SPC): principi di base
  • Test pratici di ispezione con i sistemi Swift-duo, Mantis, Falcon


Relatore:

Vision Engineering – Dr. Michelangelo Prendi

INFORMAZIONI GENERALI



  • Seminario totalmente Gratuito
  • Richiesta adesioni entro 19/07/2016
  • Adesione limitata per seminario 30 Unita
  • Conferma adesione via e mail
  • Svolgimento presso aule politecnico Ancona (visitare Sito)